GB/T 36360-2018半导体光电子器件 中功率发光二极管空白详细规范
2019-12-11 - 标准号：GB/T 36360-2018 中文标准名称：半导体光电子器件 中功率发光二极管空白详细规范 英文标准名称：Semiconductor optoelectron
GB/T 4937.11-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法
2019-12-10 - 标准号：GB/T 4937.11-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法 英文标准名称：Semicond
GB/T 4937.12-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动
2019-12-10 - 标准号：GB/T 4937.12-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动 英文标准名称：Semiconductor devices
GB/T 4937.13-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾
2019-12-10 - 标准号：GB/T 4937.13-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾 英文标准名称：Semiconductor devices—Me
GB/T 4937.14-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分：引出端强度（引线牢固性）
2019-12-10 - 标准号：GB/T 4937.14-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分：引出端强度（引线牢固性） 英文标准名称：Semicondu
GB/T 4937.15-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分：通孔安装器件的耐焊接热
2019-12-10 - 标准号：GB/T 4937.15-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分：通孔安装器件的耐焊接热 英文标准名称：Semicon
GB/T 4937.17-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照
2019-12-10 - 标准号：GB/T 4937.17-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照 英文标准名称：Semiconductor devices
GB/T 4937.18-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分：电离辐照(总剂量)
2019-12-10 - 标准号：GB/T 4937.18-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分：电离辐照(总剂量) 英文标准名称：Semiconductor
GB/T 4937.19-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分：芯片剪切强度
2019-12-10 - 标准号：GB/T 4937.19-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分：芯片剪切强度 英文标准名称：Semiconductor dev
GB/T 4937.201-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分：对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输
2019-12-10 - 标准号：GB/T 4937.201-2018 采 中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分：对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输
-
中析研究所 - 科研检测中心
-
中析研究所提供指标检测，成分分析，MSDS报告编写，实验代做，投标竞标检测服务，未知物分析鉴定等各种科研项目。我要了解>>
其他搜索： GB| 17166| 纯度检测| 树脂| 杀扑磷| 14710| 耐唾液色牢度| 急性心肌梗死小型猪| 姜黄素| 防锈纸| 橡胶圈检测| 咖啡碱| 表面活性剂| 粗糙度| 一氧化硅| 三元乙丙橡胶| 有害物质检测| 重金属含量| 植物油| 大豆磷脂|
☎ 400-635-0567
投诉电话：010-82491398
企业邮箱：010@yjsyi.com
地址：北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
山东分部：山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
