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2019-12-13  -   标准号：GB/T 35007-2018 中文标准名称：半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法 英文标准名称：Semiconductor integrated circu

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2019-12-13  -   标准号：GB/T 35006-2018 中文标准名称：半导体集成电路 电平转换器测试方法 英文标准名称：Semiconductor integrated circuits—Mea

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2019-12-13  -   标准号：GB/T 14028-2018 中文标准名称：半导体集成电路 模拟开关测试方法 英文标准名称：Semiconductor integrated circuits—Measu

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2019-12-13  -   标准号：GB/T 36005-2018 中文标准名称：半导体照明设备和系统的光辐射安全测试方法 英文标准名称：Measuring methods of optical ra

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2019-12-11  -   标准号：GB/T 36477-2018 中文标准名称：半导体集成电路 快闪存储器测试方法 英文标准名称：Semiconductor integrated circuit—Meas

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2019-12-11  -   标准号：GB/T 36357-2018 中文标准名称：中功率半导体发光二极管芯片技术规范 英文标准名称：Technical specification for middle po

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2019-12-11  -   标准号：GB/T 36358-2018 中文标准名称：半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范 英文标准名称：Semiconductor optoelectronic

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2019-12-11  -   标准号：GB/T 36359-2018 中文标准名称：半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范 英文标准名称：Semiconductor optoelectron

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